MICROSCOPIA
ELETTRONICA
A SCANSIONE

SEM modello JEOL JSM 6490

Microanalisi XRF-EDS
IXRF SYSTEMS 500

Microscopia elettronica a scansione e microanalisi
in fluorescenza di raggi X dispersiva per energia

Questo strumento (JSM 6490 JEOL) permette di effettuare osservazioni morfologiche di campioni solidi sia organico-biologici che di tipo inorganico.

I campi applicativi sono i più disparati, dal controllo di qualità per le industrie nel settore dei materiali (acciai, materiali ceramici e vetrosi, polimeri, composti di interesse farmaceutico) ad applicazioni in campo ambientale e di interesse storico-artistico.

In ambito biologico per ricerca e studi di colture in vitro e tessuti, osservazioni di effetti indotti da trattamenti su piante di interesse agrario, esami di reperti autoptici (es. presenza di inclusioni in sezioni di tessuti) e indagini microscopiche in medicina forense.

Questa apparecchiatura consente di ottenere, in condizioni di lavoro diverse, ingrandimenti da un minimo di 20-30 ad oltre 100.000 volte,

Si possono osservare ed analizzare campioni di dimensioni variabili dalla frazione di micron cubico fino ad un massimo di circa 8 X 8 X 4 centimetri cubici.

L'indagine è di tipo non distruttivo ed i campioni possono così essere riutilizzati per ulteriori analisi.

L’apparecchiatura è dotata di rivelatore per elettroni retrodiffusi che consente di acquisire immagini morfologiche correlabili a variazioni in numero atomico (Z), queste differenze sono visibili tramite diversi livelli di grigio presenti e localizzati nell'immagine in bianco e nero ottenuta dall'area esaminata.

Per caratterizzare queste differenze compositive è possibile utilizzare il sistema di analisi della ditta JEOL (IXRF SYSTEMS 500) per la misura dei raggi X di fluorescenza in dispersione di energia che permette la determinazione simultanea di tutti gli elementi presenti nell'area investigata in contemporanea con l'osservazione morfologica.

Possono essere analizzate in maniera qualitativa e quantitativa superfici anche molto piccole, ottenendo mappe di distribuzione degli elementi presenti nella zona in esame o profili di concentrazione di uno o più elementi lungo segmenti scelti arbitrariamente.

Tale tecnica consente inoltre di determinare, con diverse sensibilità, tutti gli elementi chimici con numero atomico superiore a quello del Boro; i valori minimi di concentrazione rivelabile dipendono dal numero atomico dell'elemento analizzato, dalla matrice e dalla morfologia superficiale del campione.

Questo tipo di indagine è non distruttiva e veloce, il tempo di accumulo per uno spettro può essere al massimo di qualche centinaio di secondi.

L’abbinamento scansione-microanalisi dà la possibilità di effettuare una indagine morfologico-analitica da bassi ad elevati ingrandimenti arrivando fino ad una analisi quasi "puntuale" (il volume minimo di produzione di raggi X di fluorescenza è di circa 1 micron cubico). Esempi di questa potenzialità possono essere la caratterizzazione di precipitati o inclusi ai bordi di grani di acciai, la determinazione di pigmenti in strati pittorici sovrapposti anche con spessori inferiori ad un micron e la distribuzione di metalli in strutture biologiche complesse.